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冷热冲击试验箱
发布者:天津福川制冷设备技术有限公司 发布时间:2019-04-21 21:49:44 点击次数:62 关闭

         高低温冲击试验箱(二箱)

主要技术参数

    型号

工作室(W×D×H)(mm)

外型(约)(W×D×H)(mm)

提篮作室(W×D×H)(mm)

FCCJ-100

450×450×500

1700×1250×1700

150×150×200

FCCJ-150

500×500×600

1750×1300×1800

200×200×300

FCCJ-225

500×600×750

1750×1400×1900

200×350×350

FCCJ-250

600×600×700

1850×1400×1900

300×300×350

FCCJ-408

600×800×850

1850×1500×1950

300×500×500

FCCJ-500

700×800×900

1950×1500×2000

400×500×500

FCCJ-800

800×1000×1000

2000×1700×2200

500×600×600

FCCJ-010

1000×1000×1000

2200×1700×2200

600×600×600

低温室温度范围: RT~-70℃       按要求定制

高温室温度范围: RT~+200℃       按要求定制

冲击温度范围:-20℃~+160℃-40℃~+160℃-50℃~+160℃-60℃~+160℃、-70~+160℃、-80~+160℃、-100~+160℃    可以按照要求选定冲击温度范围

注:可以根据客户要求,定制非标尺寸

产品特点

该冲击试验箱为待测品动态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在最先进的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱后部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,提篮往上(右)提到高温区,形成高温内循环。低温冲击时,提篮往下(左)提到低温区,形成低温内循环。该冲击试验箱的最大特点是:试件(待测品)上下(左右)来回反复动作

符合标准

1。GB/T2423。22-93试验Na 电工电子产品环境试验 温度冲击试验

2.GJB360.7-87温度冲击试验方法

3.GJB367.2-87 405温度冲击试验方法

4.GJB150.5-1986温度冲击试验

主要性能参数

温度偏差

≤±2。0℃(空载)

温度波动

≤±0.5℃(空载)

试样放置方式

动态(产品移动式)

降温时间

RT~-70℃约50分钟(空载)

升温时间

RT~+200℃约50分钟(空载)

温度回复时间

≤5min

温度转化时间

≤5s

温度转换方式

试样在高低温室通过提篮来回移动,做动态运行

试样移动方式

气动

控制系统

显 示 器

7寸真彩触摸屏控制仪表,操作简单,设定方便,控温精度0.01℃,超出1200段编程

运行方式

程序或定值两种控制方式自由转换



          高低温冲击试验箱(三箱)

主要技术参数

    型号

工作室(W×D×H)(mm)

外型(约)(W×D×H)(mm)

提篮作室(W×D×H)(mm)

FCCJ-100

450×450×500

1700×1250×1700

150×150×200

FCCJ-150

500×500×600

1750×1300×1800

200×200×300

FCCJ-225

500×600×750

1750×1400×1900

200×350×350

FCCJ-250

600×600×700

1850×1400×1900

300×300×350

FCCJ-408

600×800×850

1850×1500×1950

300×500×500

FCCJ-500

700×800×900

1950×1500×2000

400×500×500

FCCJ-800

800×1000×1000

2000×1700×2200

500×600×600

FCCJ-010

1000×1000×1000

2200×1700×2200

600×600×600

低温室温度范围: RT~-70℃ 按要求定制

高温室温度范围: RT~+200℃ 按要求定制

冲击温度范围:-20℃~+160℃-40℃~+160℃-50℃~+160℃-60℃~+160℃、-70~+160℃、-80~+160℃、-100~+160℃    可以按照要求选定冲击温度范围

注:可以根据客户要求,定制非标尺寸

产品特点

该冲击试验箱为待测品动态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在最先进的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备.试验箱有三箱结构,分为高温区,低温区,常温区,常温区即产品测试区,通过高温区和低温区的风门控制切换冲击温度。

符合标准

1.GB/T2423.22-93试验Na 电工电子产品环境试验 温度冲击试验

2.GJB360.7-87温度冲击试验方法

3.GJB367.2-87 405温度冲击试验方法

4.GJB150.5-1986温度冲击试验

主要性能参数

温度偏差

≤±2.0℃(空载)

温度波动

≤±0.5℃(空载)

试样放置方式

动态(产品移动式)

降温时间

RT~-70℃约50分钟(空载)

升温时间

RT~+200℃约50分钟(空载)

温度回复时间

≤5min

温度转化时间

≤5s

试样移动方式

气动

控制系统

显 示 器

7寸真彩触摸屏控制仪表,操作简单,设定方便,控温精度0.01℃,超出1200段编程

运行方式

程序或定值两种控制方式自由转换

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